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一、產品概況：

       美國CRAIC（克雷克） FLEX全光譜微量物證檢驗工作站采用新技術，不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發或其他光源類型下的光譜，還提供了數字成像功能。光譜測試的范圍從深紫外到近紅外，可實現全波段的成像。
       FLEX具備光譜及圖像分析軟件、自動化的參數設置、簡單易用、能長時間穩定工作。
       FLEX集成了（紫外－可見－近紅外）光譜儀、成像系統于一身，同時光譜儀和數字成像系統都使用了新的顯微鏡光路系統。產品配備多種類型的光源包，包括透射光、反射光、熒光等，也可以根據用戶定制化需求提供偏振光和拉曼激光。
       FLEX擁有高分辨率的數字彩色成像系統。它的高精度軟件不僅可以控制顯微鏡、光譜儀和數字成像系統，還提供了分析功能，甚至可應用于薄膜厚度測量。
        FLEX高靈敏度的熱電制冷固態陣列檢測器件，增強了光學器件的信噪比，并保證設備能長時間穩定地工作。

二、應用領域：

●  刑偵物證分析鑒定：
     1.  微量物證分析，如：痕跡證據、法醫藥物化學、可疑性文件、有機發光二極管相關物體、平板彩色面具、半導體膜厚度、MEMS設備、表面等離子體共振等；
     2.  文檢光譜分析，如：筆跡鑒定、證件真偽驗證、古跡字畫鑒定等。   
●  生物樣品分析測試：主要用于食藥案件中的非法添加物、限量添加物的檢驗和鑒定工作等。如：光子帶隙型晶體、過程雜質檢測、蛋白質晶體、組合化學等。

 
三、功能特色：

●  特色概述：

為UV-visible-NIR（紫外光-可見光-近紅外光）顯微分光和顯微成像提供了一種經濟、高效的解決方案；
UV-visible-NIR（紫外光-可見光-近紅外光）顯微分光功能；
UV-visible-NIR（紫外光-可見光-近紅外光）成像功能；
透射、反射、偏振和熒光顯微分光；
透射、反射、偏振和熒光顯微成像；
拉曼顯微分光功能（選配）；
薄膜厚度測量功能；
可對微觀樣本進行比色分析；
可使用rIQ包進行折射率的測量（選配）；
新型的Lightblades技術；
集成化的TE冷卻陣列探測器具有長期穩定性，噪音很低；
可校準的、可變測量區可精確至1μm范圍以內；
帶有目鏡和數字成像特性的高級圖像；
專門的軟件包括統計分析，光譜數據分析，圖像分析等；
易于使用和維護；
由顯微光譜學專家設計。

●  經濟、高效的顯微鏡：

顯微光譜范圍從紫外光到可見光，再到近紅外光。顯微鏡對采樣孔和樣本進行同步直接成像，以進行快速、準確地測量。
得益于獨特的Lightblades技術，甚至連亞微米級樣品的透射、反射和熒光光譜都可以測量。
CRAICT技術也是NIST可追蹤微光譜儀標準的唯一來源。

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●  靈活的拉曼顯微鏡：

安裝了CRAIC Apollo™ 拉曼光譜儀模塊后，FLEX可以測量拉曼、共振拉曼和其他類型的顯微樣本。設備可提供激光模塊、拉曼光譜模塊和接口光學模塊，確保您可以采集到樣本的高質量拉曼光譜。

 
●  高靈敏度顯微熒光測量和成像：

FLEX可以通過配置獲得顯微樣品的熒光/冷光光譜和圖像。它擁有極富特色的Lightblades技術，以及從深紫外光到近紅外光，以及測量相同范圍內的放射物的能力，是應用于材料科學、生物學、地質學等領域的微熒光測量的強大工具。

 
●  光譜表面繪圖™：

可結合硬件和軟件，運用微觀空間分辨率，對樣本進行自動光譜分析和三維繪圖。帶有吸收、透射、反射、熒光、發射和拉曼光譜等詳情的三維繪圖可能會一起生成。

 
●  從紫外光到近紅外光卓越的圖像質量：

FLEX擁有能高分辨率數碼成像的（紫外光-可見光-近紅外）顯微鏡，彩色、紫外光和近紅外光區域均覆蓋。通過其精巧的成像軟件，FLEX擁有實時成像，并通過投射、反射、偏振和熒光進行圖像捕捉的能力。